大塚資訊集團易富迪科技的熱特性實驗室最初成立於 2017 年 9 月,從開始的一套 T3Ster 量測設備開始協助客戶進行熱阻量測,憑藉著良好的服務、專業的熱分析能力,在客戶間口耳相傳慢慢的累積大量的客戶,並在熱特性實驗室中引領業界,獲得原廠認證。在實驗室剛滿六年之際,除了已有 2 套 T3Ster 協助客戶進行熱阻量測,也開始協助客戶進行功率模組的壽命及性能測試。這部分一直是我們實驗室的專業及驕傲,也期望半導體客戶藉由我們的協助可以針對其產品有著更多的了解及幫助。
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實驗室設備列表
1. 西門子 Power Tester 2400A / 12V x 4CH
2. KeenusDesign 測試 Chamber (2400A PWT 專用)
3. Chamber 水冷系統
4. 平行配電盤
5. Julabo SC5000W 冰水機
測試模式 A : Power Cycling 測試
1. 定電流:Pulse on/off 時間固定、電流固定
2. 固定△Tj:Pulse on/off 時間取決於需要的△Tj,電流及 gate voltage 固定
Pulse on/off 時間固定、電流及 gate voltage 微調控制
3.固定△Tc:Pulse on/off 時間固定、電流及 gate voltage 微調控制
4.固定△P:Pulse on/off 時間固定、電流及 gate voltage 微調控制
2. 固定△Tj:Pulse on/off 時間取決於需要的△Tj,電流及 gate voltage 固定
Pulse on/off 時間固定、電流及 gate voltage 微調控制
3.固定△Tc:Pulse on/off 時間固定、電流及 gate voltage 微調控制
4.固定△P:Pulse on/off 時間固定、電流及 gate voltage 微調控制
測試模式 B : 暫態熱阻測試
1. 根據 JEDEC 51-1 電性量測法進行暫態熱阻測試
2. 根據 JEDEC 51-14 量測 Rthjc
3. RC model 結構函數產出
4. 在非破壞底下可以確認封裝結構各層熱阻
5. 溫度敏感參數 (TSP) 測試
2. 根據 JEDEC 51-14 量測 Rthjc
3. RC model 結構函數產出
4. 在非破壞底下可以確認封裝結構各層熱阻
5. 溫度敏感參數 (TSP) 測試
測試模式 C : 劣化評估
- 在功率循環進行下配合週期間所量測出來的結構函數,real monitor 確認元件內部狀況
- 藉由 Von 及 Igate 的數據變動確認元件狀況
- 設定重要參數的上限值、如:Max Von、Max Tj 、Max △Tj…….讓代測件可以在接近損壞前自動停止