功率元件可靠度與功率循環測試系統
MicReD Power Tester 是 Siemens Simcenter MicReD 系列的功率元件可靠度與功率循環（Power Cycling）測試系統，主要用於 IGBT、MOSFET、SiC、GaN 等功率半導體元件與功率模組的壽命與可靠度驗證。系統透過高電流反覆加熱與冷卻待測元件，模擬實際工作中的熱循環負載，並同步監控元件電氣與熱特性變化，以評估封裝與接合結構的老化及失效行為。
可選購規格
1500A Power Tester
MicReD 1500A Power Tester 是針對高功率半導體元件與功率模組可靠度驗證所設計的 Power Cycling 功率循環測試系統，最高可提供 1500A 測試電流，適用於 IGBT、MOSFET、SiC 等高功率元件及模組的加速壽命與熱可靠度測試。系統透過高電流週期性通斷，使待測元件反覆升溫與降溫，模擬實際運作時的熱負載循環，並在測試過程中監控結溫（Tj）、導通電壓、熱阻與其他電氣／熱特性參數的變化，藉此掌握元件老化趨勢及失效機制。
1800A Power Tester
MicReD 1800A Power Tester 是針對高功率半導體元件與功率模組可靠度驗證所設計的高電流 Power Cycling（功率循環）測試系統，最高可提供 1800A 測試電流，適用於 IGBT、MOSFET、SiC MOSFET 等功率元件與模組的加速壽命及熱可靠度測試。系統透過高電流週期性通斷，使待測元件反覆加熱與冷卻，模擬實際運作中的功率與溫度循環負載，並持續監控元件的結溫（Tj）、導通電壓、電氣參數及熱特性變化，協助掌握元件老化趨勢與封裝失效機制。
2400A Power Tester
MicReD 2400A Power Tester 是針對超高功率半導體元件與功率模組可靠度驗證所設計的高電流 Power Cycling（功率循環）測試系統，最高可提供 2400A 測試電流，適合 IGBT、SiC MOSFET 等大電流功率元件與模組進行加速壽命及熱可靠度測試。系統透過高電流週期性通斷，使待測元件反覆產生升溫與降溫循環，模擬電動車、逆變器及高功率電力電子設備實際運作時的熱負載，並監控結溫（Tj）、導通電壓及相關電氣／熱特性隨循環次數的變化，以評估元件壽命及封裝可靠度。