TeraLED (Thermal and Radiometric Characterization of LEDs) － LED 光熱耦合量測系統
T3Ster® TeraLED® 是用來獲取 LED 輻射 / 光度特性的自動光學測試設備，它既可和 T3Ster 搭配使用，也可以單獨使用。符合 JEDEC JESD51 系列及 CIE 127-2007 的量測規範。TeraLED 量測硬體包含了完整的光學量測系統，能夠測定光度 (photometric) 以及光輻射特性 (radiometric)。此外，也可結合 T3Ster 來擷取暫態溫度的變化過程並求得其熱特性。
直徑 300mm 的積分球上安裝有溫控 DUT 夾具，恒溫標定 LED 以及數個濾光片，包括 V(λ), V'(λ), Xshort, Xlong 和 Z 濾光片。安裝有用於光測量濾光片的探測頭符合 CIE V(λ)標準，誤差在1.5%。
直徑 300mm 的積分球上安裝有溫控 DUT 夾具，恒溫標定 LED 以及數個濾光片，包括 V(λ), V'(λ), Xshort, Xlong 和 Z 濾光片。安裝有用於光測量濾光片的探測頭符合 CIE V(λ)標準，誤差在1.5%。
在獲取熱 / 光兩方面特性的資料，T3Ster 用來為所測的 LED 提供電力。通過 T3Ster 控制和評估暫態熱測試，T3Ster® TeraLED® 檢測所測設備的光學和輻射特性。傳統的測量設備沒有諸如 T3Ster 這樣的儀器，所以得出的 Junction 溫度包含了溫控器自身所產生的影響，這樣的Junction 溫度並不是所測設備真實的 Junction 溫度。我們配備了 T3Ster 檢測儀器，它解決了溫控器自身溫度對所測設備的影響，因而T3Ster® TeraLED® 測試到的是所測設備的真實 Junction 溫度。儀器提供全自動檢測過程，因此能在數小時內得出結果，其它需要人工干預檢測過程的方法則需要數天才能得到檢測結果。
特點及效益
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透過 T3Ster 及 TeraLED，可從單顆 LED 量測，到 CFD 數值分析，到實際產品應用，整合在一起。
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